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SEM-Raman (RISE Microscopy) 將拉曼成像和掃描電鏡全面地結合在一起用于樣品的綜合分析是一種新穎的聯(lián)用電鏡技術。通過拉曼分析和掃描電鏡的聯(lián)用,材料表面細微的結構特征可與化合物的分子信息相結合。 拉曼光譜和掃描電鏡成像的結合使得掃描電鏡的分析性能得到擴展。拉曼成像是用于獲得樣品化學成分和分子空間分布的一種廣為人知的光譜技術。它還可以用來獲取 2D 和 3D 圖像,以及深度方向的輪廓,來分析材料內(nèi)部混合物的分布。拉曼光譜不僅適用于相鑒別,還能夠用來研究材料的價態(tài)。有些拉曼位移是由作用在材料上的應力而產(chǎn)生,由此可以觀察和測量該應力強度。通過拉曼譜峰的寬度,還可以評估固體材料的結晶度。通過拉曼譜峰的強度,人們還可以獲得一些更深層的信息。拉曼譜峰的強度和材料的總量相關,還和層狀材料特定層的厚度相關。因此,這種技術還可以用以區(qū)分單層、雙層或多層的石墨區(qū)域。 ? 集成化的軟件界面,為用戶提供友好的測量操作體驗 應用領域 RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)在地質(zhì)、礦物晶體、高分子聚合物、醫(yī)學、生命醫(yī)藥、寶玉石鑒定等領域均有了非常豐富的應用。 RISE電鏡-拉曼一體化系統(tǒng)特別適合于有機結構解析、碳結構解析、無機相鑒定、同分異構分析、結晶度分析等領域的分析應用。目前,RISE顯微鏡在地質(zhì)、礦物晶體、高分子聚合物、醫(yī)學、生命醫(yī)藥、寶玉石鑒定等領域均有了非常豐富的應用。 |
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